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产地类别 | 进口 |
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PM-E2半球发射率测定仪原理
PM-E2半球发射率测定举例
PM-E2半球发射率测定仪技术规格
系统组成
仪器包含积分球测量单元,光源,数据显示的操作单元。
校正
低辐射参考样板使用镀金玻璃镜面 (εL=0.05@293K/Edmund),高辐射标准样板使用
黑体 (εH=0.85@293K/Sheldahl).
测定方法
半球发射率εH
半球发射率测定范围 0.05~0.95
检测器波长范围
0.6~42μm(300K理论黑体总放射能量的95%)
测定的不确定性 半球发射率值±0.03
测定时间 1~3分
基准样品
低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)
高半球发射率εH=0.85@293K(Sheldahl制)
电源 DC12V1A
尺寸规格
操作部分:W145×D82×H32 (mm)
测定部分:W125×D60×高74 (mm)
重量
操作部分:约200g
测定部分:约700g
储存环境
温度:10~45℃
湿度:50%RH
附件
使用手册
CD(驱动程序)
USB数据线 (Type A-Type B)
电源线
上一产品:PM-A2太阳光反射比测试仪